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淺談納米粒度及zeta電位儀原理及功能認(rèn)識(shí)

更新時(shí)間: 2024-03-11      點(diǎn)擊次數(shù):1090

納米粒度及zeta粒度儀是一種用于測(cè)量納米材料電位和粒度分布的重要儀器。其原理基于電泳或電滲原理,通過(guò)測(cè)量納米顆粒在電場(chǎng)作用下的移動(dòng)行為,

來(lái)獲得其電位和粒度信息。目前海鑫瑞科技的納米粒度及zeta粒度儀不僅可以得到粒度、電位的數(shù)據(jù)之外,還可以得到分子量、溫度/時(shí)間趨勢(shì)、以及隨

著溶液PH的變化電位的變化數(shù)據(jù)等,一機(jī)多用的科研好幫手


  首先,讓我們了解一下粒度測(cè)量原理


納米粒度及zeta粒度儀則是基于光散射原理進(jìn)行測(cè)量。當(dāng)一束激光照射在納米顆粒上時(shí),光的散射角度與顆粒的大小有關(guān)。通過(guò)測(cè)量散射角度,可以得

到顆粒的粒度分布情況。


   其次是電位測(cè)量原理

  在Zeta電位納米粒度儀中,通常使用電泳光散射法來(lái)同時(shí)測(cè)量納米顆粒的電位和粒度。在電場(chǎng)作用下,通過(guò)測(cè)量納米顆粒的電泳速度和光散射強(qiáng)度,

可以推算出其電位值和粒度分布。這種方法既具有高靈敏度,又能夠快速分析大量樣本。


  此外,Zeta電位納米粒度儀還具有非侵入性測(cè)量的優(yōu)勢(shì),無(wú)需操作者與樣品接觸,避免了污染和干擾,確保了測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。


  總的來(lái)說(shuō),納米粒度及zeta粒度儀的原理是結(jié)合電泳和光散射技術(shù),通過(guò)測(cè)量納米顆粒在電場(chǎng)作用下的運(yùn)動(dòng)行為和光散射特性,來(lái)獲得其電位和粒度

信息。這種儀器在納米材料的研究和開(kāi)發(fā)中具有重要的應(yīng)用價(jià)值,為材料科學(xué)、環(huán)境保護(hù)和生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域的研究提供了有力支持。

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